瑞萨为下一代汽车架构推28纳米MCU 内置自测试功能增强
2019-02-20 15:30
来源:
盖世汽车网
据外媒报道,当地时间2月19日,日本瑞萨电子株式会社(Renesas Electronics Corporation)宣布研发,并成功运行验证了一款汽车测试芯片,可实现采用28纳米(nm)低功耗工艺的下一代汽车控制闪存微控制器(MCU)。瑞萨电子是全球领先的先进半导体解决方案供应商。
该MCU有4个600兆赫(MHz)CPU(中央处理器),具备锁步机制和16MB闪存容量以及:
1、支持MCU虚拟化的虚拟化辅助功能:该技术允许多个软件组件在一个MCU上运行,互不干扰,从而满足道路车辆ISO 26262功能安全标准规定的最高汽车安全完整性级别ASIL D的要求。
2、内置的自测试功能(BIST)得以增强,可用于MCU自诊断故障检测,这也是满足ASIL D的必备功能。能够满足ASIL D得益于其配备了新研发的备用恢复内置自测试功能,可在备用恢复期间执行内置自测试功能。
3、用于高速传输传感器信息的千兆以太网接口等网络功能得以增强。
瑞萨将在于2月17至21日在旧金山举行的2019年国际固态电路会议(ISSCC)上展示其测试结果。
作者:余秋云
声明:
本文系OFweek根据授权转载自其它媒体或授权刊载,目的在于信息传递,并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责,如有新闻稿件和图片作品的内容、版权以及其它问题的,请联系我们。
最新活动更多
-
精彩回顾立即查看>> 2021中国·顺德高新区智能制造与新材料产业在线推介会
-
精彩回顾立即查看>> 【线下会议】东莞松山湖功能区招商大会
-
精彩回顾立即查看>> 【青岛】2020中国医用塑料创新技术研讨会
-
精彩回顾立即查看>> 联想智慧中国行|联想商用IoT新品发布会
-
精彩回顾立即查看>> 2020日本国际电子&汽车工业展在线直播
-
精彩回顾立即查看>> 【在线研讨会】戈尔在尾灯雾气方面的最新研究
发表评论
请输入评论内容...
请输入评论/评论长度6~500个字
暂无评论
暂无评论